[发明专利]三维存储器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201810600399.5 申请日: 2018-06-12
公开(公告)号: CN108807405B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 刘峻 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11531;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11573;H01L27/11578
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 骆希聪
地址: 430205 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种制作三维存储器的方法,包括以下步骤:提供半导体结构,所述半导体结构具有核心区、字线连接区和周边区;在所述核心区形成沟道孔阵列和一个或多个栅极隔槽,且在所述周边区形成一个或多个接触孔;在所述沟道孔阵列的各沟道孔、所述一个或多个栅极隔槽以及所述一个或多个接触孔中都形成存储器膜和沟道层;在所述半导体结构上形成硬掩模图案,所述硬掩模图案覆盖所述沟道孔阵列,且暴露所述一个或多个栅极隔槽和所述一个或多个接触孔;去除所述一个或多个栅极隔槽和所述一个或多个接触孔中的所述沟道层;在所述一个或多个栅极隔槽中形成绝缘部;以及在所述一个或多个接触孔中形成接触部。
搜索关键词: 三维 存储器 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种制作三维存储器的方法,包括以下步骤:提供半导体结构,所述半导体结构具有核心区、字线连接区和周边区;在所述核心区形成沟道孔阵列和一个或多个栅极隔槽,且在所述周边区形成一个或多个接触孔;在所述沟道孔阵列的各沟道孔、所述一个或多个栅极隔槽以及所述一个或多个接触孔中都形成存储器膜和沟道层;在所述半导体结构上形成硬掩模图案,所述硬掩模图案覆盖所述沟道孔阵列,且暴露所述一个或多个栅极隔槽和所述一个或多个接触孔;去除所述一个或多个栅极隔槽和所述一个或多个接触孔中的所述沟道层;在所述一个或多个栅极隔槽中形成绝缘部;以及在所述一个或多个接触孔中形成接触部。
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