[发明专利]一种通讯设备的温升测试方法及系统

摘要

本发明提供了一种通讯设备的温升测试方法及系统，本发明中，待测试通讯设备表面温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，内部元件温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过该内部元件正常工作能承受的最高温度；自然降温阶段中，老化箱密封，其内没有空气对流，因而，热敏电阻丝能准确反映待测试通讯设备表面与内部元件的温度，据此作出的合格与否判断准确。

主权项

1.一种通讯设备的温升测试方法，其特征在于，包括：在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，所述各个热敏电阻丝并联；将所述布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封所述老化箱，所述置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载；对所述老化箱预设加热温度、升温时间以及保温时间，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；开启所述老化箱的电源，所述待测试通讯设备经升温阶段及保温阶段后，关闭所述老化箱的电源；关闭所述老化箱的电源后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；在所述保温阶段以及自然降温阶段，实时监测通过各个热敏电阻丝的电流，以获取待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度‑时间曲线；判断各个温度‑时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度‑时间曲线；对于符合的温度‑时间曲线中待测试通讯设备表面的温度‑时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则合格；对于符合的温度‑时间曲线中内部元件的温度‑时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，所对应的内部元件温升测试不合格，否则合格。