[发明专利]电子元器件环境老化测试中泄漏电流检测方法及装置在审
| 申请号： | 201810611740.7 | 申请日： | 2018-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN108562841A | 公开（公告）日： | 2018-09-21 |
| 发明（设计）人： | 张文亮;朱阳军;李文江;孙浩强;雷小阳 | 申请（专利权）人： | 山东阅芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/00 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 韩凤 |
| 地址： | 264315 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元器件环境老化测试中泄漏电流检测方法及装置，其对HTRB中、H3TRB中或HTGB中，利用采样电路采集所需的泄漏电流，所述采样电路包括用于与待测半导体器件相应端脚连接的运算放大器，所述运算放大器的同相端接地，运算放大器的反相端与待测半导体器件的端脚连接，且运算放大器的反相端通过放大器反馈电阻与所述运算放大器的输出端连接；在运算放大器的输出端得到输出电压Vout后，泄漏电流ILK＝Vout/RIV，其中，Vout为运算放大器的输出电压，RIV为放大器反馈电路。本发明能有效实现对泄漏电流的检测，且不会影响HTRB、H3TRB、HTGB试验中所施加的电学应力条件，安全可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 运算放大器 泄漏电流 待测半导体器件 泄漏电流检测 电子元器件 采样电路 老化测试 输出电压 反相端 端脚 放大器反馈电阻 放大器反馈 输出端连接 应力条件 有效实现 接地 输出端 同相端 电学 电路 采集 施加 检测 试验 | ||
【主权项】：
1.一种电子元器件环境老化测试中泄漏电流检测方法，其特征是：对HTRB中、H3TRB中或HTGB中，利用采样电路采集所需的泄漏电流，所述采样电路包括用于与待测半导体器件相应端脚连接的运算放大器，所述运算放大器的同相端接地，运算放大器的反相端与待测半导体器件的端脚连接，且运算放大器的反相端通过放大器反馈电阻与所述运算放大器的输出端连接，在运算放大器的输出端得到输出电压Vout后，泄漏电流ILK＝Vout/RIV，其中，Vout为运算放大器的输出电压，RIV为放大器反馈电阻。
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