[发明专利]封装结构在审

专利信息
申请号: 201810613771.6 申请日: 2018-06-14
公开(公告)号: CN110610914A 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 夏鑫 申请(专利权)人: 通富微电子股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 薛异荣;吴敏
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种封装结构,包括:半导体芯片;导电连接柱,所述导电连接柱具有相对的第一面和第二面,所述导电连接柱的第一面与半导体芯片的表面固定;第一阻挡层,所述第一阻挡层位于所述导电连接柱的侧壁且未覆盖第二面;载板,所述载板与所述半导体芯片相对设置,所述导电连接柱位于半导体芯片和所述载板之间,且第二面朝向载板;位于所述载板表面和所述第二面之间的焊料层。所述封装结构的性能得到提高。
搜索关键词: 导电连接柱 半导体芯片 第二面 封装结构 阻挡层 载板 表面固定 相对设置 板表面 焊料层 侧壁 覆盖
【主权项】:
1.一种封装结构,其特征在于,包括:/n半导体芯片;/n导电连接柱,所述导电连接柱具有相对的第一面和第二面,所述导电连接柱的第一面与半导体芯片的表面固定;/n第一阻挡层,所述第一阻挡层位于所述导电连接柱的侧壁且未覆盖第二面;/n载板,所述载板与所述半导体芯片相对设置,所述导电连接柱位于半导体芯片和所述载板之间,且第二面朝向载板;/n位于所述载板表面和所述第二面之间的焊料层。/n
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