[发明专利]一种偏视场微光相机遮光罩的设计方法有效

专利信息
申请号: 201810622423.5 申请日: 2018-06-15
公开(公告)号: CN108873566B 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 张庭成;刘晓林;李可;李洋;赵健;刘芳芳;阮宁娟 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G03B11/02 分类号: G03B11/02;G02B27/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 李晶尧
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种偏视场微光相机遮光罩的设计方法,涉及航天遥感技术领域;包括如下步骤:步骤(一)、计算偏视场微光相机遮光罩的抑制比δ;步骤(二)、计算偏视场微光相机遮光罩的长度L;步骤(三)、根据偏视场微光相机偏视场的上边界为LUp1;计算遮光罩的上边界LUp2;步骤(四)、根据设定偏视场微光相机偏视场的下边界为LDw1;计算遮光罩的下边界LDw2;步骤(五)、根据步骤(三)和步骤(四)的计算结果,完成遮光罩的建模;本发明实现了微光相机高灵敏度度、大动态范围的成像要求,并可应用于星敏感器相机遮光罩的设计中,具有较高的可移植性和通用性。
搜索关键词: 一种 视场 微光 相机 遮光 设计 方法
【主权项】:
1.一种偏视场微光相机遮光罩的设计方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤(一)、测量杂散光光源的最小入射角度αMIN,αMIN为偏视场微光相机的杂散光抑制角度;测量得到偏视场微光相机的动态范围的下限LMIN,测量得到杂散光光源的能量ESL,计算偏视场微光相机遮光罩的抑制比δ;步骤(二)、测量得到偏视场微光相机最大对角线半视场ωDia、测量得到第一片透镜入光口径D、测量杂散光在遮光罩内的反射次数n和偏视场微光相机的杂散光抑制角度αMIN,计算偏视场微光相机遮光罩的长度L;n=1或2;步骤(三)、设定偏视场微光相机偏视场的上边界为LUp1;计算遮光罩的上边界LUp2;步骤(四)、设定偏视场微光相机偏视场的下边界为LDw1;计算遮光罩的下边界LDw2;步骤(五)、根据步骤(三)和步骤(四)的计算结果,完成遮光罩的建模。
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