[发明专利]具有鳍形有源区的半导体器件有效
申请号: | 201810630928.6 | 申请日: | 2018-06-19 |
公开(公告)号: | CN109509791B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 金成玟;金洞院;裵金钟 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 刘培培;黄隶凡 |
地址: | 韩国京畿道水*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种高度集成的半导体器件。所述半导体器件包括衬底,所述衬底包括由所述衬底中的沟槽界定的器件区。所述半导体器件包括多个鳍形有源区,所述多个鳍形有源区在所述器件区中彼此间隔开且在第一方向上延伸。所述半导体器件包括突出图案,所述突出图案沿所述沟槽的底表面延伸。另外,所述突出图案与所述多个鳍形有源区之间的间隔大于所述多个鳍形有源区中两个相邻的鳍形有源区之间的间隔。 | ||
搜索关键词: | 具有 有源 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:衬底,包括由所述衬底中的沟槽界定的器件区;多个鳍形有源区,在所述器件区中彼此间隔开且在第一方向上延伸;以及多个突出图案,沿所述沟槽的底表面延伸,所述多个突出图案中的一者从所述器件区的侧壁的下端延伸,其中所述多个鳍形有源区中的相邻的鳍形有源区在与所述第一方向垂直的第二方向上以第一节距彼此间隔开,且其中所述多个突出图案与所述多个鳍形有源区在所述第二方向上以第二节距彼此间隔开,所述第二节距大于所述第一节距。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810630928.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体装置
- 下一篇:优化EMI的超结MOSFET版图结构及制造方法
- 同类专利
- 专利分类