[发明专利]半导体装置

摘要

本公开涉及半导体装置。相关的半导体装置具有不能进行具有高缺陷再现性的分析处理的问题。根据一个实施例，半导体装置1包括使用第一本地存储器区111执行存储在第一代码区121中的第一程序UP1的第一运算核心101和使用第二本地存储器区121执行存储在第二代码区121中的第二程序UP2的第二运算核心102。在分析模式中，半导体装置1执行使第一运算核心101和第二运算核心102两者都执行第一程序UP1的第一分析处理和使第一运算核心101和第二运算核心102两者都执行第二程序UP2的第二分析处理，并且对从第一分析处理和第二分析处理获取的多个运算结果数据片段AD1和AD2进行比较，从而获取用于缺陷分析的分析信息。

主权项

1.一种半导体装置，包括：第一运算核心，被配置为使用第一本地存储器区执行存储在第一代码区中的第一程序；第二运算核心，被配置为使用第二本地存储器区执行存储在与所述第一代码区不同的第二代码区中的第二程序；分析代码区，被配置为存储分析控制程序；分析本地存储器区，被配置为保持所述分析控制程序的执行结果；分析核心，被配置为在分析所述第一运算核心和所述第二运算核心中的缺陷的分析模式中，基于所述分析控制程序来控制所述第一运算核心或所述第二运算核心的程序执行状态；和访问路径控制单元，被配置为在所述第一运算核心和所述第二运算核心独立地操作的正常操作模式中，防止所述第一运算核心访问所述第二代码区以及防止所述第二运算核心访问所述第一代码区，其中在所述分析模式中，所述访问路径控制单元切换访问路径，以使得在第一分析处理中根据来自所述分析核心的命令将所述第一程序读入所述第一运算核心和所述第二运算核心中，并且所述访问路径控制单元切换所述访问路径，以使得在第二分析处理中将所述第二程序读入所述第一运算核心和所述第二运算核心中，以及所述分析核心在所述第一分析处理中，将基于所述第一程序由所述第一运算核心生成的第一运算结果数据与基于所述第一程序由所述第二运算核心生成的第二运算结果数据进行比较，并且在所述第二分析处理中，将基于所述第二程序由所述第一运算核心生成的第三运算结果数据与基于所述第二程序由所述第二运算核心生成的第四运算结果数据进行比较，以生成用于分析所述第一运算核心、所述第二运算核心以及所述第一运算核心和所述第二运算核心所使用的电路中的缺陷的分析信息。