[发明专利]基于小像元尺寸探测器的虚拟大满阱TDI CMOS成像系统在审
申请号: | 201810653030.0 | 申请日: | 2018-06-22 |
公开(公告)号: | CN108965752A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 余达;刘金国;徐东;李广泽;赵莹;王冶;吕世良 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H04N5/3745 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 朱红玲 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 基于小像元尺寸探测器的虚拟大满阱TDI CMOS成像系统,涉及一种基于小像元尺寸探测器的虚拟大满阱TDI CMOS成像系统,本发明解决现有的小像元存在满阱电荷数过低,信噪比不高的问题,包括多谱段TDI CMOS探测器、成像控制器和外部存储器;成像控制器产生多谱段TDI CMOS探测器的工作时序,进行TDI工作模式的控制,同时接收多谱段TDI CMOS探测器输出的经过了模拟电荷域TDI叠加的多谱段图像数据,采用外部存储器进行数字域TDI工作模式叠加;采用模拟电荷域TDI结合数字域TDI的方式来突破小像元尺寸的满阱电荷数少的约束,设计分区曝光成像的TDI CMOS探测器结构,根据TDI积分方向和TDI级数选择设计TDI积分过程的控制方式和数据缓存方法,形成虚拟的大满阱电荷数的TDI CMOS图像探测器成像系统。 | ||
搜索关键词: | 多谱段 尺寸探测器 阱电荷 虚拟 成像控制器 外部存储器 模拟电荷 数字域 叠加 成像系统 工作时序 积分方向 积分过程 控制方式 曝光成像 数据缓存 图像数据 信噪比 探测器 分区 输出 | ||
【主权项】:
1.基于小像元尺寸探测器的虚拟大满阱TDI CMOS成像系统,包括多谱段TDI CMOS探测器、成像控制器和外部存储器;其特征是,所述成像控制器产生多谱段TDI CMOS探测器的工作时序,进行TDI工作模式的控制,同时接收多谱段TDI CMOS探测器输出的经过了模拟电荷域TDI叠加的多谱段图像数据,采用乒乓结构的外部存储器进行数字域TDI工作模式叠加;设定p谱段分布在多谱段TDI CMOS探测器边缘,该谱段包括n个区域,每个区域最大实现m级模拟电荷域TDI工作模式,且每个区域能独立输出电荷并进行量化输出;m、n均为大于1的正整数;设定b谱段像元尺寸为p谱段像元尺寸的k倍,每个谱段仅存在一个感光区域;所述k为大于1的正整数;设定地面景物经过TDI CMOS探测器时,p谱段获得的所述探测器内累加的电荷up用下式表示为:式中A为探测器的像元面积,texp为探测器的在轨的行周期,ηλ为在探测器中心波长为λ的谱段内的积分量子效率,EO(λ)为探测器像面的典型照度,h为普朗克常量,c为光速。
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