[发明专利]多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法

摘要

多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法，涉及航天应用的多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法，解决现有串行数据训练方法存在仅能检测到一个数据跳变区域甚至检测不到数据跳变区域，且根据窄采样范围内获得的采样信息来确定最佳数据采样位置，存在采样裕量小或盲目扩大采样区域导致采样出现亚稳态等问题，本发明提出基于高频采样的串行图像数据训练方法，使用串行图像数据数倍的高于IODELAY参考时钟频率的采样时钟对输入的串行数据进行采样，并分别在不同的计数值下检测数据跳变位置，从而获得尽可能宽的数据稳定采样时序裕量，保证系统稳定可靠工作。

主权项

1.多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法，其特征是；该方法由以下过程实现：低频晶振产生的时钟经时钟分路器进行分频，分频后分别产生串行图像数据频率为finter的CMOS串行时钟，时钟频率为fsample的采样时钟以及参考频率为fiodelay的参考时钟并送入成像控制器；所述成像控制器将串行图像数据频率为finter的CMOS串行时钟送入多通道CMOS探测器，所述多通道CMOS探测器输出的多通道数据送入成像控制器进行串并转换，采用基于计数器的复选器进行不同采样区段的选择，实现输入串行图像数据的全范围采样；多通道低频CMOS串行图像数据的最佳采样位置的确定方法分为几下三种情况：一、当采样过程中数据跳变沿位置对应一个计数器位置时，设定稳定采样的两个临界点分别是第一个稳定采样的临界点(i,tap1)和第二个稳定采样的临界点(i,tap2)，其中tap1和tap2为稳定采样的两个临界点时Iodelay对应的延迟值，i为计数器的计数值，且tap2＞tap1；则稳定采样眼宽度以tap数表示为：(n‑1)×tapm+(tapm‑tap2+tap1)，tapm为Iodelay的最大延迟值；n为大于1的正整数，为计数器的最大值，m为大于1的正整数；则最佳的采样位置与第二个稳定采样的临界点(i,tap2)的距离为：最佳的采样位置为：二、当采样过程中数据跳变沿位置对应两个计数器位置时；设定稳定采样的两个临界点分别为第三个稳定采样的临界点(i‑1,tap1)和第二个稳定采样的临界点(i,tap2)，则稳定采样眼宽度为：(n‑2)×tap_m+(tap_m‑tap₂+tap₁)，最佳的采样位置与第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)的距离为最佳的采样位置为：三、当采样过程中数据跳变沿位置对应多于两个计数器位置时；设定稳定采样的两个临界点分别为(i‑1,tap1)，(i+m,tap2)，其i‑1和i+m为计数器的计数值；则稳定采样眼宽度为：(n‑2‑m)×tapm+(tapm‑tap2+tap1)；最佳的采样位置与第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)的距离为最佳的采样位置为：