[发明专利]一种增强FLASH存储器可靠性的方法有效

专利信息
申请号: 201810665139.6 申请日: 2018-06-26
公开(公告)号: CN109165115B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 刘宏梅;陈峰;仲倩黎 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G06F12/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家镇未*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明介绍一种增强FLASH存储器可靠性的方法,涉及应对上层应用对FLASH存储器页的访问请求,通过建立FLASH映射表,在映射表中查找访问页对应的实际地址,访问该实际地址;访问后,检查硬件提供的ECC校验寄存器,如果该寄存器的值为0,则表示访问成功;如果该寄存器的值为1,则表示存在ECC1bit错误并被纠错,此错误作为换页条件,进行换页操作。换页时,在映射表中按规则找到可用冗余区的页地址,如果冗余区耗尽,FLASH存储器可靠性失效,否则使用该冗余区,并更新FLASH映射表信息,完成换页操作。本发明介绍的方法,可以通过建立FLASH映射表,配置FLASH存储器冗余区大小,动态提升FLASH存储器的可靠性,解决不同用户对FLASH存储器可靠性的需求,提高开发效率。
搜索关键词: 一种 增强 flash 存储器 可靠性 方法
【主权项】:
1.一种增强FLASH存储器可靠性的方法,其特征在于,按以下步骤操作进行程序执行和处理,改进FLASH存储器的可靠性:步骤1,上电后,建立FLASH映射表及初始化,等待上层应用对FLASH存储器访问请求;步骤2,应对FLASH存储器访问请求,在映射表中进行映射查找,得到实际FLASH存储地址;步骤3,根据需要操作的实际FLASH存储地址,访问FLASH存储器地址;步骤4,判断是否需要换页,判断条件为:如果是读访问,检查ECC校验寄存器,为0则不需要换页,访问成功,退出判断;为1则需要换页但返回数据正确,进入步骤5;为其他值则ECC无法纠错,访问失败,退出判断;如果是写访问,检查写函数返回值,如果为0,则不需要换页,访问成功,退出判断;为1则需要换页但返回数据正确,进入步骤5;步骤5,查询FLASH映射表,按规则找到可用冗余区的页地址,如果冗余区已经耗尽,进入步骤6;如果存在可用的冗余区页,则先将冗余页值更新为与替换页相同,再更新FLASH映射表信息,访问成功,流程结束;步骤6,冗余区耗尽,无法换页,存储器整体可靠性失效,访问彻底失败,流程终止。
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