[发明专利]图形化衬底的制作方法、图形化衬底和发光二极管有效
申请号: | 201810667825.7 | 申请日: | 2018-06-26 |
公开(公告)号: | CN110649134B | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 高明圆 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01L33/00;H01L21/3065 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;姜春咸 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种图形化衬底的制作方法、图形化衬底和发光二极管。包括初始阶段:在衬底上形成具有初始形貌的图形化掩膜;形貌形成阶段,通入第一刻蚀气体,在预设的第一刻蚀工艺参数下,形成具有预定形貌的图形化掩膜以及初步图形化衬底;拐角形成抑制阶段:通入第二刻蚀气体,在预设的第二刻蚀工艺参数下,抑制所述具有预定形貌的图形化掩膜拐角的形成,以获得中间图形化衬底;形貌修饰阶段,通入第三刻蚀气体,在预设的第三刻蚀工艺参数下,对中间图形化衬底的侧壁形貌进行修饰,以获得最终图形化衬底。本发明的图案化衬底的制作方法,可以有效缩短工艺制程时间,提高产能。 | ||
搜索关键词: | 图形 衬底 制作方法 发光二极管 | ||
【主权项】:
1.一种图形化衬底的制作方法,其特征在于,包括:/n初始阶段:在衬底上形成具有初始形貌的图形化掩膜;/n形貌形成阶段:通入第一刻蚀气体,在预设的第一刻蚀工艺参数下,形成具有预定形貌的图形化掩膜以及初步图形化衬底;/n拐角形成抑制阶段:通入第二刻蚀气体,在预设的第二刻蚀工艺参数下,抑制所述具有预定形貌的图形化掩膜拐角的形成,直至所述具有预定形貌的图形化掩膜完全被刻蚀,以获得中间图形化衬底,其中,通过增大所述初步图形化衬底的底宽和/或减小所述具有预定形貌的图形化掩膜的收缩速度,能抑制所述具有预定形貌的图形化掩膜拐角的形成;/n形貌修饰阶段:通入第三刻蚀气体,在预设的第三刻蚀工艺参数下,对所述中间图形化衬底的侧壁形貌进行修饰,以获得最终图形化衬底。/n
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