[发明专利]一种测量一维材料复极化率的装置及方法有效
| 申请号： | 201810676430.3 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN108982374B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 刘开辉;姚凤蕊;刘灿;陈成 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人： | 苏爱华 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量一维材料复极化率的装置及方法。所述方法分别利用左‑(右‑)旋椭圆偏振光与一维材料散射光的干涉，在两组结果中复极化率实部(虚部)贡献相反(相同)，从而定量测量一维材料的复极化率。所述装置包括光源、第一偏振片、1/4波片、第一保偏镜头、被测一维材料样品、第二保偏镜头、第二偏振片和光谱仪。或者，所述装置包括光源、第一偏振片、1/4波片、分光镜、保偏镜头、被测一维材料样品、第二偏振片、反射镜和光谱仪。本发明首次实现了对一维材料复极化率的测量，具有测量速度快、测量频带广(1.6eV‑2.7eV)、不破坏被测样品、操作简单、设备易得等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 材料 极化 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量一维材料方法，其特征在于，分别利用左‑(右‑)旋椭圆偏振光与一维材料散射光的干涉，在两组结果中复极化率实部(虚部)贡献相反(相同)，从而定量测量一维材料的复极化率。
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