[发明专利]缺陷检查方法有效
| 申请号： | 201810677554.3 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN109146839B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 加藤嗣;梅崎太造 | 申请（专利权）人： | 东京威尔斯股份有限公司;梅崎太造 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 张轶楠;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 图像处理方法和缺陷检查方法。能够在从被检查物的拍摄图像分选检查对象区域时减轻产生对作业人员要求熟练的判断等负担且简单地设定阈值并容易地选出检查对象区域。图像处理方法包括差分算出步骤，将具有相对于基准直线为线对称的第1及第2区域的单色的原图像通过基准直线划分为第1及第2区域，对于在第1及第2区域内相对于基准直线为线对称的位置配置的两个原像素的各对，算出成为两个原像素的像素值的差分的差分像素值。该方法还包括差分图像生成步骤，配置具有差分像素值的差分像素而生成差分图像，将具有使用第1区域内的第1位置的原像素和第2区域内的第2位置的原像素的对所算出的差分像素值的差分像素配置于差分图像的第1及第2位置而生成差分图像。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种图像处理方法，其特征在于，包括：差分算出步骤，将具有相对于基准直线为线对称的第1区域及第2区域的单色的原图像，通过所述基准直线划分为所述第1区域及所述第2区域，关于在所述第1区域及所述第2区域内配置于相对于所述基准直线为线对称的位置的两个原像素的各对，算出成为所述两个原像素的像素值的差分的差分像素值；和差分图像生成步骤，是配置具有所述差分像素值的差分像素来生成差分图像的差分图像生成步骤，将具有使用所述第1区域内的第1位置的原像素和所述第2区域内的第2位置的原像素的对所算出的所述差分像素值的差分像素配置于所述差分图像的所述第1位置及所述第2位置来生成所述差分图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京威尔斯股份有限公司;梅崎太造，未经东京威尔斯股份有限公司;梅崎太造许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810677554.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
