[发明专利]一种测量激光强度的方法有效
| 申请号： | 201810681768.8 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN108827464B | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 周月明;谭佳;陆培祥 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量激光强度的方法，包括：利用相对相位变化的正交双色激光场作用于原子，测量一系列电离得到的光电子动量谱，偏振沿平行方向的高强度激光电离原子基态的电子波包，偏振沿垂直方向的倍频弱激光场调制电子波包随后的运动；利用偏振沿平行方向的高强度激光单独作用于原子，测量电离得到的光电子动量谱；分析测量到的一系列动量谱，得到双色场下光电子全息干涉结构相对于单色场下干涉结构的变化幅值；找到该幅值的极小值对应的激光偏振方向动量，通过与激光强度对幅值极小值位置的依赖关系作对比，校准激光强度。本发明依赖于光电子干涉技术的激光有效强度测量方法，在光电子全息干涉的应用方面以及激光强度的测量上有重要的价值。 | ||
| 搜索关键词： | 动量 电离 激光 测量 偏振 光电子 高强度激光 光电子全息 测量激光 干涉结构 电子波 平行 激光偏振方向 双色激光场 单独作用 分析测量 相位变化 依赖关系 有效强度 原子基态 场调制 弱激光 干涉 校准 倍频 双色 正交 应用 | ||
【主权项】：
1.一种测量激光强度的方法，其特征在于，包括：利用相对相位变化的正交双色激光场作用于原子，获取所述原子的第一二维光电子动量谱，所述正交双色激光场包括偏振沿平行方向的第一激光脉冲和偏振沿垂直方向的第二激光脉冲，所述第一激光脉冲的强度大于所述第二激光脉冲的强度；用所述第一激光脉冲作用于所述原子，获取所述原子的第二二维光电子动量谱；分析所述第一二维光电子动量谱及所述第二二维光电子动量谱，得到在正交双色激光场下的光电子全息干涉结构相对于在所述第一激光脉冲下的单色激光场光电子全息干涉结构的变化幅值；找到所述幅值的极小值对应的激光偏振方向动量，通过与激光强度对幅值极小值位置的依赖关系作对比，得到激光强度。
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