[发明专利]一种碲化镉纳米晶薄膜的微刻蚀方法有效

专利信息
申请号: 201810683740.8 申请日: 2018-06-28
公开(公告)号: CN109065665B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 覃东欢;郭秀珍;容志滔;罗恺楹 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 罗啸秋
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于光电器件领域,公开了一种碲化镉纳米晶薄膜的微刻蚀方法。所述方法为:在碲化镉纳米晶薄膜上盖上掩膜版,然后用刻蚀溶液的蒸汽对碲化镉纳米晶薄膜表面进行微刻蚀,得到刻蚀后的碲化镉纳米晶薄膜。本发明方法可避免损坏薄膜的PN结而造成器件漏电的问题,同时降低高功函数碲化镉与电极的肖特基势垒。
搜索关键词: 一种 碲化镉 纳米 薄膜 刻蚀 方法
【主权项】:
1.一种碲化镉纳米晶薄膜的微刻蚀方法,其特征在于包括如下步骤:在碲化镉纳米晶薄膜上盖上掩膜版,然后用刻蚀溶液的蒸汽对碲化镉纳米晶薄膜表面进行微刻蚀,得到刻蚀后的碲化镉纳米晶薄膜。
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