[发明专利]深空探测高灵敏度测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201810683927.8 申请日: 2018-06-28
公开(公告)号: CN109061767B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 李金岳;牛俊坡;何振宁;谢攀;杜洋 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00;G01V3/12
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种深空探测高灵敏度测试系统及测试方法,该系统包括被测试系统单机、地检设备、通用测试设备:被测试系统单机为高灵敏度接收系统及单机,其放入微波屏蔽空间;地检设备包括外部供电电源、地检遥测设备和带屏蔽低频电缆;通用测试设备包括射频合成信号发生器、功率计、可调衰减器和射频电缆。本发明解决了深空探测高灵敏度系统及单机测试的难题,提出了深空探测系统及单机的接收灵敏度射频有线的测试方法,准确地标定高灵敏度接收系统及单机的灵敏度,可准确地推算出深空探测器最远飞行距离。
搜索关键词: 探测 灵敏度 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种深空探测高灵敏度测试系统,其特征在于,包括被测试系统单机、地检设备、通用测试设备:被测试设备为高灵敏度接收系统及单机,其放入微波屏蔽空间;地检设备包括外部供电电源、地检遥测设备和带屏蔽低频电缆;通用测试设备包括射频合成信号发生器、功率计、可调衰减器和射频频电缆。
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