[发明专利]精密测角传感器及其测量方法在审
| 申请号： | 201810691283.7 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN108592827A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 张白;康学亮 | 申请（专利权）人： | 北方民族大学 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 林辉轮;张玲 |
| 地址： | 750021 宁夏回族*** | 国省代码： | 宁夏;64 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种精密测角传感器及其测量方法，所述精密测角传感器包括激光束一与激光束二，反射面将所述激光束一、激光束二进行反射；分光镜一，将反射面反射的激光束一分为激光束三与激光束四；分光镜二，将反射面反射的激光束二分为激光束五与激光束六；光电探测器一，用于接收经分光镜一反射的激光束三并显示入射位置；光电探测器二，用于接收经分光镜一透射出的激光束四并显示入射位置；光电探测器三，用于接收经分光镜二反射的激光束五并显示入射位置；光电探测器四，用于接收经分光镜二透射出的激光束六并显示入射位置；处理系统，用于根据光电探测器探测到的激光束入射位置的变化量处理得到所述反射部件上被测物体的旋转角度值。 | ||
| 搜索关键词： | 激光束 分光镜 光电探测器 反射 入射位置 测角传感器 反射面 精密 透射 测量 激光束入射位置 被测物体 处理系统 反射部件 变化量 探测 | ||
【主权项】：
1.一种精密测角传感器，其特征在于，包括：激光束一、激光束二，且所述激光束一与激光束二入射至反射部件的入射位置不同；所述反射部件，所述反射部件用于固定被测物体，所述反射部件可旋转并且沿周向设有若干个反射面，每个所述反射面用于将所述激光束一、激光束二进行反射；分光镜一，用于将所述反射部件的反射面反射的激光束一分为激光束三与激光束四；分光镜二，用于将所述反射部件的反射面反射的激光束二分为激光束五与激光束六；光电探测器一，用于接收经分光镜一反射的激光束三，并显示其入射位置；光电探测器二，用于接收经分光镜一透射出的激光束四，并显示其入射位置；光电探测器三，用于接收经分光镜二反射的激光束五，并显示其入射位置；光电探测器四，用于接收经分光镜二透射出的激光束六，并显示其入射位置；处理系统，用于根据光电探测器一探测到的激光束三入射位置的变化量及光电探测器二探测到的激光束四入射位置的变化量，处理得到所述反射部件上被测物体的旋转角度值；和/或，根据光电探测器三探测到的激光束五入射位置的变化量及光电探测器四探测到的激光束六入射位置的变化量，处理得到所述反射部件上被测物体的旋转角度值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北方民族大学，未经北方民族大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810691283.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种发制品垂直度测试装置
- 下一篇：光电传感器深孔同轴度检测装置及其检测方法
