[发明专利]一种半导体器件封装结构和方法在审

专利信息
申请号: 201810712912.X 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN108987350A 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 崔磊;张璧君;吴鹏飞;金锐;潘艳;温家良;吴军民;田丽欣 申请(专利权)人: 全球能源互联网研究院有限公司
主分类号: H01L23/10 分类号: H01L23/10;H01L23/043;H01L23/22;H01L23/473;H01L21/52
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 吴黎
地址: 102209 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种半导体器件封装结构和方法,该封装结构包括:第一电极片;第二电极片,与所述第一电极片相对设置;半导体器件芯片,置在所述第一电极片和第二电极片之间;支撑部件,设置在所述半导体器件芯片的侧面,以在所述半导体器件芯片、所述第一电极片与所述支撑部件之间和/或所述半导体器件芯片、所述第二电极片与所述支撑部件之间形成空腔,并且所述支撑部件具有贯穿所述支撑部件且与所述空腔连通的通孔。所述半导体器件在使用时,通过该支撑部件上的通孔向该腔体内注入导电流体,有效提高器件封装的可靠性;对半导体器件芯片有良好的散热作用;同时具有良好的自保护功能,一旦液体泄漏,上电极或下电极自动与芯片开路。
搜索关键词: 支撑部件 半导体器件芯片 第一电极 第二电极 半导体器件封装 通孔 半导体器件 自保护功能 导电流体 封装结构 空腔连通 器件封装 散热作用 相对设置 液体泄漏 电极 下电极 空腔 开路 体内 芯片 侧面 贯穿
【主权项】:
1.一种半导体器件封装结构,其特征在于,包括:第一电极片;第二电极片,与所述第一电极片相对设置;半导体器件芯片,设置在所述第一电极片和第二电极片之间;支撑部件,设置在所述半导体器件芯片的侧面,以在所述半导体器件芯片、所述第一电极片与所述支撑部件之间和/或所述半导体器件芯片、所述第二电极片与所述支撑部件之间形成空腔,并且所述支撑部件具有贯穿所述支撑部件且与所述空腔连通的通孔。
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