[发明专利]直流测量工装及方法在审
| 申请号： | 201810720906.9 | 申请日： | 2018-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN109085415A | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 赵鹏飞;董益斌;宁骞;章涛 | 申请（专利权）人： | 华立科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 邓超 |
| 地址： | 310000 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种直流测量工装及方法，所述直流测量工装包括：计量芯片、第一采样通道、第二采样通道和主控芯片；所述第一采样通道与所述计量芯片的第一信号输入端连接，用于将采集到的预设低电压范围的低压采样信号输送给所述计量芯片；所述第二采样通道与所述计量芯片的第二信号输入端连接，用于将采集到的预设高电压范围的高压采样信号输送给所述计量芯片；所述计量芯片根据接收到的所述低压采样信号或者所述高压采样信号向所述主控芯片输出测量数据；所述主控芯片用于利用预设的校准系数对所述测量数据进行校准，得到测量结果。达到了提高直流源信号测量的准确性的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 计量芯片 采样通道 直流测量 主控芯片 工装 预设 高压采样信号 输入端连接 采样信号 采集 直流源信号 测量数据 第二信号 技术效果 输出测量 校准系数 校准 低电压 高电压 测量 | ||
【主权项】：
1.一种直流测量工装，其特征在于，包括：计量芯片、第一采样通道、第二采样通道和主控芯片；所述第一采样通道与所述计量芯片的第一信号输入端连接，用于将采集到的预设低电压范围的低压采样信号输送给所述计量芯片；所述第二采样通道与所述计量芯片的第二信号输入端连接，用于将采集到的预设高电压范围的高压采样信号输送给所述计量芯片；所述计量芯片根据接收到的所述低压采样信号或者所述高压采样信号向所述主控芯片输出测量数据；所述主控芯片用于利用预设的校准系数对所述测量数据进行校准，得到测量结果。
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