[发明专利]结晶金属氧化物层的制造方法、主动元件基板及制造方法有效
申请号: | 201810724360.4 | 申请日: | 2018-07-04 |
公开(公告)号: | CN108878456B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 叶家宏;黄景亮 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 北京市立康律师事务所 11805 | 代理人: | 梁挥;孟超 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供了一种结晶金属氧化物层的制造方法、主动元件基板的制造方法及主动元件基板,结晶金属氧化物层的制造方法包括:提供基板;形成第一绝缘层于基板上;形成第一金属氧化物层于第一绝缘层上;形成第二金属氧化物层于第一绝缘层上;形成第二绝缘层于第一金属氧化物层以及第二金属氧化物层上;形成硅层于第二绝缘层上;对覆盖第一金属氧化物层之部分硅层进行第一激光工艺;以及对覆盖第二金属氧化物层的部分硅层进行第二激光工艺。本发明的技术方案可以降低形成不同的结晶金属氧化物层时所需的成本,改善主动元件基板的漏电问题,增加主动元件基板的电流效率,缩小主动元件基板的边框宽度。 | ||
搜索关键词: | 结晶 金属 氧化物 制造 方法 主动 元件 | ||
【主权项】:
1.一种结晶金属氧化物层的制造方法,其特征在于,该制造方法包括:提供一基板;形成一第一绝缘层于该基板上;形成一第一金属氧化物层于该第一绝缘层上;形成一第二金属氧化物层于该第一绝缘层上;形成一第二绝缘层于该第一金属氧化物层以及该第二金属氧化物层上,该第一金属氧化物层以及该第二金属氧化物层位于该第一绝缘层与该第二绝缘层之间;形成一硅层于该第二绝缘层上,该硅层覆盖该第一金属氧化物层以及该第二金属氧化物层;对覆盖该第一金属氧化物层的部分该硅层进行一第一激光工艺,以使该第一金属氧化物层转化为一第一结晶金属氧化物层;以及对覆盖该第二金属氧化物层的部分该硅层进行一第二激光工艺,以使该第二金属氧化物层转化为一第二结晶金属氧化物层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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