[发明专利]芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统在审
| 申请号： | 201810725215.8 | 申请日： | 2018-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN110687427A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11313 北京市铸成律师事务所 | 代理人： | 李博瀚;陈晓亮 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统，方法包括获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；对获取的原始数据进行数据解析，以获得各个测试方法对应的测试结果；在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；根据模式选取指令，在模式选择区域选取至少一个测试方法；获取被选取的测试方法所对应的测试结果；在图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。本发明在芯片测试结果中使用图形用户界面将芯片测试的结果数据更加完整和直观展示在图形中，提高分析芯片测试结果数据的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 图形用户界面 模式选择区域 芯片测试结果 原始数据 测试结果数据 结果显示区域 方法和设备 测试系统 分析芯片 结果数据 模式选取 数据解析 芯片测试 直观 芯片 指令 展示 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试结果的显示方法，其特征在于，包括：/n获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；/n对获取的所述原始数据进行数据解析，以获得各个所述测试方法对应的测试结果；/n在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；/n根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法；/n获取被选取的测试方法所对应的测试结果；以及/n在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。/n
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