[发明专利]一种支持约束的事件序列故障定位方法有效

专利信息
申请号: 201810739291.4 申请日: 2018-07-06
公开(公告)号: CN108959091B 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 魏长安;孙超;林连雷;姜守达;张雨 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 杨立超
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种支持约束的事件序列故障定位方法,它用于软件测试技术领域。本发明解决了传统的软件事件序列故障定位方法存在的未考虑事件序列之间的约束限制对故障定位的影响的问题。本发明获得待测系统的非确定事件交互集N,计算非确定事件交互集N中每个非确定事件交互的错误概率,按照错误概率由大到小的顺序依次执行集合N中每个事件交互,以确定出集合Γ中包含的极小错误事件交互,完成待测系统的事件序列故障定位;与传统的事件序列故障定位方法相比,本发明的故障定位方法考虑了事件序列之间的约束限制对故障定位的影响,克服了现有技术的局限。本发明可以应用于软件测试技术领域用。
搜索关键词: 一种 支持 约束 事件 序列 故障 定位 方法
【主权项】:
1.一种支持约束的事件序列故障定位方法,其特征在于,该方法的具体步骤为:步骤一、对于一个具有n个事件的待测系统,初始化待测系统的正确事件序列测试用例组成的集合M1为空集、初始化待测系统的错误事件序列测试用例组成的M2为空集;定义集合N1和集合N2分别为集合M1和集合M2所覆盖的全部t维相邻事件交互,定义N=N2‑N1,初始化待测系统的集合N为空集,初始化待测系统的全部极小错误事件交互所组成的集合Γ为空集;设置最大迭代次数为m;执行测试待测系统的全部事件序列测试用例,生成待测系统的非确定事件交互集N;步骤二、计算步骤一的非确定事件交互集N中每个非确定事件交互的错误概率,选取出非确定事件交互集N中错误概率最大的事件交互S;步骤三、对步骤二选取的事件交互S进行测试,生成一组附加测试用例;步骤四、计算步骤三中每条附加测试用例的适应值,来判断是否存在最佳附加测试用例,若存在最佳附加测试用例,则利用最佳附加测试用例判断事件交互S是否为待测系统的一个极小错误交互;若不存在最佳附加测试用例,则按照适应值由大到小的顺序依次执行每条附加测试用例,来判断事件交互S是否为待测系统的一个极小错误交互;步骤五、选取步骤二中错误概率次大的非确定事件交互S1,重复执行步骤三至步骤四的过程,直至非确定事件交互集N中所有事件交互测试完成,确定出集合Γ中包含的全部极小错误事件交互,完成待测系统的事件序列故障定位。
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