[发明专利]二氧化硅中的氯离子浓度测定方法有效
| 申请号： | 201810742849.4 | 申请日： | 2018-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN109060976B | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 王立军 | 申请（专利权）人： | 德山化工（浙江）有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02 |
| 代理公司： | 上海唯源专利代理有限公司 31229 | 代理人： | 曾耀先 |
| 地址： | 314201 浙江省嘉兴*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种二氧化硅中的氯离子浓度测定方法，所述方法包括将二氧化硅在碱性水溶液中分散后得到二氧化硅分散液；将得到的二氧化硅分散液在85℃以上的温度中加热处理，使二氧化硅溶解得到二氧化硅溶液；通过离子色谱法对得到的二氧化硅溶液中的氯离子进行分析。本发明通过前述技术方案开发了不使用环境负荷大的药剂等，可以在更低的检测下限，实现高精度测定的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 二氧化硅 中的 氯离子 浓度 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种二氧化硅中的氯离子浓度测定方法，其特征在于，所述方法包括：将二氧化硅在碱性水溶液中分散后得到二氧化硅分散液；将得到的二氧化硅分散液在85℃以上的温度中加热处理，使二氧化硅溶解得到二氧化硅溶液；通过离子色谱法对得到的二氧化硅溶液中的氯离子进行分析。
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