[发明专利]曲面触控屏测试方法

摘要

一种曲面触控屏测试方法，包括：一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有一全平面区、一外围区，且具有四个圆弧顶角、多个像素单元、多个发射电极通道线、以及多个接收电极通道线；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的发射电极通道线及像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的所述接收电极通道线及像素单元；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。上述测试方法可测试各种曲面触控屏。

主权项

1.一种曲面触控屏测试方法，其特征在于包括︰一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有：一全平面区，所述全平面区呈矩形而具有四顶角顶点；一外围区，围绕所述全平面区，且具有四个圆弧顶角；多个像素单元，设置在所述曲面触控屏上；多个发射电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上；以及多个接收电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上，且与所述多个发射电极通道线相交，其中各所述接收电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元，各所述发射电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的至少二所述发射电极通道线及屏蔽所述至少二发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的至少二所述接收电极通道线及屏蔽所述至少二接收电极通道线所对应的像素单元，其中未被屏蔽的发射电极通道线、未被屏蔽的接收电极通道线及未被屏蔽的像素单元位于所述全平面区内；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。