[发明专利]一种单片集成半导体阵列器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810752108.4 申请日: 2018-07-10
公开(公告)号: CN108847419A 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 刘召军;刘亚莹;张珂;刘弈博 申请(专利权)人: 南方科技大学
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;G09F9/33
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种单片集成半导体阵列器件及其制备方法,该阵列器件包括衬底及位于衬底上阵列排布的多个集成半导体器件;集成半导体器件包括HEMT及LED;HEMT位于衬底的第一区域,HEMT包括沿远离衬底方向依次层叠设置的沟道层、空间层、势垒层及源极和栅极;LED位于衬底的第二区域,LED包括沿远离衬底方向依次层叠设置的n型层、有源层、p型层及p型电极;n型层的侧壁与沟道层的侧壁接触。本发明实施例提供的阵列器件完全基于三族氮化物,阵列中的单个器件为HEMT‑LED集成器件,器件内部无需金属线连接,可以简化器件结构,减少寄生电阻,制备更小尺寸的LED微显示器,实现完全基于三族氮化物的微显示器。
搜索关键词: 衬底 制备 集成半导体器件 半导体阵列 三族氮化物 衬底方向 单片集成 微显示器 依次层叠 阵列器件 沟道层 侧壁接触 单个器件 第二区域 第一区域 集成器件 寄生电阻 器件结构 金属线 空间层 势垒层 侧壁 排布 源层 源极
【主权项】:
1.一种单片集成半导体阵列器件,其特征在于,包括衬底以及位于所述衬底上阵列排布的多个集成半导体器件;所述集成半导体器件包括高电子迁移率晶体管HEMT以及发光二极管LED;其中,所述HEMT位于所述衬底的第一区域,所述HEMT包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的沟道层、空间层、势垒层以及设置于所述势垒层上的源极和栅极;所述LED位于所述衬底的第二区域,所述LED包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的n型层、有源层、p型层以及设置于所述p型层上的p型电极;所述n型层的侧壁与所述沟道层的侧壁接触;多条沿列方向排布的扫描线,所述扫描线与所述HEMT的栅极电连接;多条沿行方向排布的数据线,所述数据线与所述LED的p型电极电连接。
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