[发明专利]一种碳化硅门极可关断晶闸管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201810756210.1 申请日: 2018-07-11
公开(公告)号: CN108878523B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 李思敏 申请(专利权)人: 北京优捷敏半导体技术有限公司
主分类号: H01L29/745 分类号: H01L29/745;H01L21/332;H01L29/06
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 张晶;郭佩兰
地址: 100012 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种碳化硅门极可关断晶闸管,为在N+型SiC衬底上面设有的PNPN四层SiC结构,其上层为多条由复数个重复排列的上管P型发射区组成的条带,中层由上管N型基区、上管N型浓基区和上管N型浓基区汇流条组成,上管N型浓基区与上管N型浓基区汇流条相交或平行,上管N型汇流条的上表面与门极金属层连接。本发明提供的碳化硅门极可关断晶闸管可降低周边的电流密度,提高抗dI/dt和抗dV/dt的能力。
搜索关键词: 一种 碳化硅 门极可关断 晶闸管 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种碳化硅门极可关断晶闸管,为在N+型SiC衬底上面设有的PNPN四层SiC结构,其上层为多条由复数个重复排列的上管P型发射区组成的条带,中层由上管N型基区、上管N型浓基区和上管N型浓基区汇流条组成,其中,上管N型浓基区和上管N型浓基区汇流条掺杂浓度比上管N型基区高,上管N型浓基区和上管N型浓基区汇流条位于上管N型基区的上部;上管P型发射区的下面有上管N型基区,上管N型基区的下面有下层上管P型集电区,上管P型集电区的下面有底层下管N型发射区,下管N型发射区的下面为N+型SiC衬底,该上管P型发射区的上表面连接阳极金属层,该N+型衬底下表面连接阴极金属层,其特征在于:该上管N型浓基区与上管N型浓基区汇流条相交或平行;该上管N型浓基区汇流条的上方设有的门极金属层,与上管N型浓基区汇流条的上表面相连接;该重复排列的上管P型发射区组成的的条带内相邻发射区之间的重复间距在50μm以内。
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