[发明专利]功率测量方法和电子设备有效
申请号: | 201810761175.2 | 申请日: | 2018-07-12 |
公开(公告)号: | CN108917923B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 陈业旺;阮双琛;韩培刚;仇明侠;欧阳德钦;刘敏秋;陈燕平 | 申请(专利权)人: | 深圳技术大学(筹) |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J3/28 |
代理公司: | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 欧志明 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种功率测量方法和电子设备,涉及光学领域,应用于电子设备,该电子设备包括:滤波单元、功率测量单元和多个光谱测量单元,该方法包括:通过多个该光谱测量单元,对来自超连续谱光源的光束进行测量,得到该光束的多个波段的光谱数据。将该多个波段的光谱数据进行拼接,得到该光束的总光谱数据。通过该滤波单元,对来自该超连续谱光源的光束进行滤波处理,得到预设波段的光束。通过该功率测量单元,对该预设波段的光束进行测量,得到该预设波段的光束的功率。根据该光束的总光谱数据和该预设波段的光束的功率,生成该光束的总功率。该方法可提高测量超连续谱光源的总功率的精确度。 | ||
搜索关键词: | 功率 测量方法 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种功率测量方法,其特征在于,应用于电子设备,所述电子设备包括:滤波单元、功率测量单元和多个光谱测量单元,所述方法包括:通过多个所述光谱测量单元,对来自超连续谱光源的光束进行测量,得到所述光束的多个波段的光谱数据;将所述多个波段的光谱数据进行拼接,得到所述光束的总光谱数据;通过所述滤波单元,对来自所述超连续谱光源的光束进行滤波处理,得到预设波段的光束;通过所述功率测量单元,对所述预设波段的光束进行测量,得到所述预设波段的光束的功率;根据所述光束的总光谱数据和所述预设波段的光束的功率,生成所述光束的总功率。
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