[发明专利]一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法

摘要

本发明涉及一种使用光学方法快速判断近似均匀的非透明介质中是否存在异质体并确定异质体位置和大小的方法，属于光学无损检测领域，包括：使用多个检测器对光源经近似均匀的非透明被测物体后的出射光进行检测，在多个检测器获得被测物体差分光密度(ΔOD)的基础上，对差分光密度差异(ΔOD’)进行计算，并对差分光密度差异曲线的特征参数进行提取，根据所提取的特征参数判定介质中是否存在异质体以及异质体的横向和纵向位置。本发明的有益效果是：为基于光学检测近似均匀的非透明介质中异质体检测技术提供最佳光源‑探测器放置位置的辅助参考，其准确的光源‑探测器定位将有效提高光学无损检测的精度；同时，本方法可作为快速评估介质内是否含有异质体的有效辅助手段。

主权项

1.一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法，包括：使用多个检测器对光源经近似均匀的非透明被测物体后的出射光进行检测，在多检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上，对差分光密度差异ΔOD’进行计算，并对差分光密度差异曲线的特征参数进行提取，根据所提取的特征参数判定介质中是否存在异质体以及异质体的横向和纵向位置。其特征在于包括以下步骤：第一步：对近似均匀的非透明被测物体进行检测时，采用“一光源‑多探测器”或“多光源‑多探测器”的阵列方式，各个检测器依次排开或交替排开，不限于各个检测器间的距离。第二步：在多个检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上，将相邻位置检测器得到的差分光密度ΔOD相减，得到差分光密度差异ΔOD′，表示在该位置时差分光密度的变化趋势，如公式1；ΔOD′＝ΔODi+1‑ΔODi，(i＝1，2，...，n‑1)  (1)第三步：将多探测器得到的差分光密度差异ΔOD′依次连接，得到差分光密度差异曲线；当差分光密度差异曲线为一条恒等于0或平直的直线时，说明被测物体内无异质体。当差分光密度差异曲线不为0或趋势变化明显时，说明被测物体内有异质体；第四步：采用高斯等曲线拟合的方法，提取差分光密度差异曲线拟合的特征参数来判定被测物体是否含有异质体及其位置，具体参数包括峰值、峰值所在位置和峰宽。通过差分光密度差异曲线的峰值大小，可判定被测物体内的异质体的纵向位置；通过差分光密度差异曲线的峰值所在位置，可判定被测物体内的异质体的横向位置；通过差分光密度差异曲线的峰宽，可判定被测物体内的异质体的大小。