[发明专利]电子元件测试装置有效

专利信息
申请号: 201810762859.4 申请日: 2018-07-12
公开(公告)号: CN108692662B 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 冯宏伟;徐绘;冯宏图;高莹 申请(专利权)人: 榆林学院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01R31/00
代理公司: 苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙) 32344 代理人: 李锋
地址: 719000 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了电子元件测试装置,其不仅可以检测电子元件的尺寸,而且,可以快速的对电子元件的电性能进行检测,检测自动化程度高,检测可靠,本发明采用多工位的方式进行检测,有效降低了检测劳动强度,多工位转动盘组件旁可以配设上料与下料的机械手,实现全自动化检测,本发明在检测时,当上料机械手上料后,顶紧组件先对电子元件顶紧定位在定位槽的基准面上,然后,真空吸附组件对电子元件件吸附固定,当电子元件转动至尺寸检测工位时,利用光束对其进行检测,光束接收器根据接收到的光可以判断出电子元件的轮廓,其尺寸可计算出,判断是否合格,如合格的话,利用电性能检测组件对其进行电性能测试即可,不合格产品可由机械手取出。
搜索关键词: 电子元件 测试 装置
【主权项】:
1.电子元件测试装置,其特征在于,其包括多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件,其特征在于,所述多工位转动盘组件至少包括转动盘和固定盘,其中,所述转动盘的下方同轴设置有固定盘,所述转动盘相对于所述固定盘沿着其中心轴线分度转动;所述转动盘上圆周阵列设置有多个对电子元件进行定位的定位槽;所述定位槽的底部固定设置有对电子器件进行支撑的透明支撑板,所述定位槽内设置有对所述电子器件进行定位的顶紧组件;所述透明支撑板上设置有对所述电子器件进行负压吸附的负压固定组件;所述尺寸检测组件包括光束发射器和光束接收器组件,所述固定盘上至少设置有一个安装光束发射器的盲孔,所述光束发射器的正上方且位于所述转动盘的上方设置有所述光束接收器组件,所述光束接收器组件根据其接收的光对电子元件的尺寸进行检测;所述转动盘的上方还设置有电性能检测组件,所述电性能检测组件对电子元件的电性能进行检测。
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