[发明专利]一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法在审
| 申请号： | 201810769304.2 | 申请日： | 2018-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN109061344A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 李文杰;王斌;赵伟刚;王凤岩;黄付刚 | 申请（专利权）人： | 成都四威功率电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人： | 李蕊;何凡 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其包括以下步骤：S1、获取辐射天线的近场辐射场强分布数据和被测对象的三维仿真数据；S2、根据近场辐射场强分布数据获取单次辐射的有效区域；根据被测对象的三维仿真数据建立三维仿真模型；S3、在三维仿真模型中根据单次辐射的有效区域获取辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息；S4、根据辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息自动调整辐射天线的实际位置。本发明保证了被测对象被全方位辐射覆盖，又提高了测试效率，避免了人工调整测试位置带来的测试精度误差，有效提高了辐射敏感度的测试准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射天线 被测对象 辐射 三维仿真模型 敏感度试验 场强分布 辐射位置 近场辐射 三维仿真 一次辐射 有效区域 坐标信息 测试准确度 全方位辐射 测试位置 测试效率 精度误差 人工调整 实际位置 数据获取 数据建立 敏感度 测试 覆盖 保证 | ||
【主权项】：
1.一种辐射敏感度试验中辐射位置的自动调整方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、获取辐射天线的近场辐射场强分布数据和被测对象的三维仿真数据；S2、根据近场辐射场强分布数据获取单次辐射的有效区域；根据被测对象的三维仿真数据建立三维仿真模型；S3、在三维仿真模型中根据单次辐射的有效区域获取辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息；S4、根据辐射天线进行每一次辐射时的坐标信息自动调整辐射天线的实际位置。
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