[发明专利]一种多传感器的协同制造工艺流程有效
申请号: | 201810774509.X | 申请日: | 2018-07-13 |
公开(公告)号: | CN108862186B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 赵敏 | 申请(专利权)人: | 河南汇纳科技有限公司 |
主分类号: | B81B7/04 | 分类号: | B81B7/04;B81C1/00 |
代理公司: | 郑州裕晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41142 | 代理人: | 徐志威 |
地址: | 450000 河南省郑州市航空港区四港联动大道与省*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明涉及一种多传感器的协同制造工艺流程,其具体制备工艺流程如下:S1、采用SOI圆片作为MEMS传感器层,SOI顶层硅为n型掺杂;S2、进行两次正面离子注入;S3、对SOI圆片的正反面进行沉积形成钝化层薄膜;S4、将SOI圆片的正面进行溅射电极和引线;S5、对SOI圆片进行器件层刻蚀;S6、对SOI圆片进行衬底层刻蚀;S7、对SOI圆片的埋氧层进行刻蚀;S8、对MEMS于CMOS三位集成;本发明具有协同效果好、制造简便的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 传感器 协同 制造 工艺流程 | ||
【主权项】:
1.一种多传感器的协同制造工艺流程,其特征在于,其具体制备工艺流程如下:S1、采用SOI圆片作为MEMS传感器层,SO1顶层硅为n型掺杂;S2、进行两次正面离子注入;S3、对SOI圆片的正反面进行沉积形成钝化层薄膜;S4、将SOI圆片的正面进行溅射电极和引线;S5、对SOI圆片进行器件层刻蚀;S6、对SOI圆片进行衬底层刻蚀;S7、对SOI圆片的埋氧层进行刻蚀;S8、对MEMS于CMOS三位集成。
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