[发明专利]用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法有效
| 申请号： | 201810784523.8 | 申请日： | 2018-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN110726673B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 李丙轩;张戈;廖文斌;黄凌雄;陈玮冬;林长浪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人： | 吕少楠 |
| 地址： | 350002 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法，包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，激光器与铁电晶体光路连接，光电探测器与铁电晶体光路连接；外场控制器向铁电晶体施加外场；数据采集控制单元与外场控制器控制连接。该探针以光学信息为检测手段，获取铁电晶体受外场影响发生相变的情况，为铁电晶体相变检测提供新的检测手段。本发明的又一方面还提供了该光学探针的检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电晶体 相变 检测 光学 探针 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在于，包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，所述激光器与所述铁电晶体光路连接，所述光电探测器与所述铁电晶体光路连接；所述外场控制器向所述铁电晶体施加外场；所述数据采集控制单元与所述外场控制器控制连接。/n
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