[发明专利]质量分析装置和质量分析方法有效
| 申请号： | 201810788020.8 | 申请日： | 2018-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN109283238B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 佐久田昌博 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 黄纶伟;孙明浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供质量分析装置和质量分析方法，能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110)，其具有显示部(220)，并且对含有测定物质的试样进行分析，其中，质量分析装置(110)还具有：存储部(215)，其存储针对测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰(T)；一致度计算部(217)，其根据区域内的试样的质谱(N)与理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部(219a)，其使显示部显示一致度；以及重叠显示控制部(219b)，其使显示部以质荷比一致的方式将试样的质谱和理论峰重叠显示。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种质量分析装置，其具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。
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