[发明专利]一种测试缺陷数据存储方法和装置

摘要

本发明公开了一种测试缺陷数据存储方法、装置、电子设备和计算机存储介质。该方法包括：接收用于提出测试请求的提测单；建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；获取与提测单对应的测试获得的缺陷数据；根据映射关系，将获取的缺陷数据存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。通过本技术方案，建立了提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系，测试人员可以根据自己的需求提交测试单，然后测试得到的缺陷数据自动存储到缺陷存储系统，不需要按照缺陷存储系统的目录层级，也可以实现缺陷数据的存储，提高了存储效率，使得缺陷数据的存储更加人性化，增强用户的使用体验。

主权项

1.一种测试缺陷数据存储方法，其中，该方法包括：/n接收用于提出测试请求的提测单；/n建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；/n获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；/n根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。/n