[发明专利]开发调试处理方法及系统有效
| 申请号： | 201810804383.6 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN108989792B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 李童 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N21/81 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了开发调试处理方法及系统，涉及电视设备领域。开发调试处理方法用于对待调试目标对象进行按电源键调试，待调试目标对象包括一用于表示待调试目标对象是否支持长按电源键功能的属性标识；开发调试处理方法包括为：获取待调试目标对象的属性标识；根据属性标识识别待调试目标对象是否支持长按电源键功能；若待调试目标对象不支持长按电源键功能，对待调试目标对象进行短按电源键待机状态调试。本发明可对象不支持长按电源键功能的对待调试目标对象进行短按电源键待机状态调试，以使不支持长按电源键功能的待调试目标对象在短按电源键待机状态调试过程中输出的状态与实际使用短按电源键时呈现的状态保持一致。 | ||
| 搜索关键词： | 开发 调试 处理 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种开发调试处理方法，用于对待调试目标对象进行按电源键调试，其特征在于，所述待调试目标对象包括一用于表示所述待调试目标对象是否支持长按电源键功能的属性标识；所述开发调试处理方法包括下述步骤：获取所述待调试目标对象的所述属性标识；根据所述属性标识识别所述待调试目标对象是否支持长按电源键功能；若所述待调试目标对象不支持长按电源键功能，对所述待调试目标对象进行短按电源键待机状态调试。
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