[发明专利]一种快速检测闪存瑕疵的方法在审

专利信息
申请号: 201810806210.8 申请日: 2018-07-20
公开(公告)号: CN109036494A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 蔡定国;李庭育;黄中柱;许豪江 申请(专利权)人: 江苏华存电子科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种快速检测闪存瑕疵的方法,包括以下步骤:A、将全字节为0x55的测试资料写入闪存的资料暂存器;B、从资料暂存器读取测试资料到缓冲区1;C、将全字节为0xAA的测试资料写入闪存的资料暂存器;D、从资料暂存器读取测试资料到缓冲区2;E、取出缓冲区1与0x55进行比特比对,是否有某位比特错误;F、有错误表示该位置的输入输出有问题;G、取出缓冲区2与0xAA进行比特比对,是否有某位比特错误;H、有错误表示该位置的输入输出有问题;I、设定一组时间阈值,本发明采用从资料暂存器读取测试资料与采用一组时间阈值,在区域数内进行读取测试的方法相结合,使检测的速度快,检测准确,提高对闪存的检测方法与检测闪存品质的速度。
搜索关键词: 闪存 资料暂存器 缓冲区 读取测试 检测 测试资料 快速检测 比对 瑕疵 写入 取出 输出
【主权项】:
1.一种快速检测闪存瑕疵的方法,包括暂存器内部的资料写入与寄存器的缓冲区域内的数据读取,其特征在于:所述暂存器上设块组,每个块又分成多个页,每个页会有多个列组合而成,所述暂存器上还设有缓冲区域。
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