[发明专利]一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法在审
| 申请号： | 201810806234.3 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109065095A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 蔡定国;李庭育;庄健民;齐元辅 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法，包括控制芯片、软件程序模块和闪存芯片，控制芯片分别信号连接软件程序模块和闪存芯片，先将测试资料写入所有块的第一页，接着将所有块擦除，再将测试资料写到所有块的所有页，最后对所有块的所有页内的资料进行比对，依照结果得到坏块表；本发明原理简单，工作效率高，可以将写的页数没有超过6个页就进行擦除而会导致块写入的资料容易出错的坏块找出来。 | ||
| 搜索关键词： | 软件程序模块 测试资料 控制芯片 闪存芯片 电性 闪存 侦测 写入 工作效率高 信号连接 坏块表 块擦除 比对 擦除 坏块 页数 出错 | ||
【主权项】：
1.一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法，其特征在于：包括控制芯片（1）、软件程序模块（2）和闪存芯片（3），所述控制芯片（1）分别信号连接软件程序模块（2）和闪存芯片（3）。
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