[发明专利]一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法在审

专利信息
申请号: 201810806778.X 申请日: 2018-07-20
公开(公告)号: CN109189603A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 陈育鸣;李庭育;洪振洲;魏智汎 申请(专利权)人: 江苏华存电子科技有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法,包括以下步骤:主控内部的随机内存控制单元,不配置额外的校验位储存用内存组件,随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存;主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过对数据数据做异或运算产生校验用的校验位;随机内存控制单元所控制并从随机内存中读出资料,该发明使用异或运算对于大量块状数据做数据保护,其优点是对于块数据的保护与其他代数算法ECC比较起来控制逻辑设计相对简单,与传统随机内存保护方式相比,对于大量块状数据做数据保护更是省去大量校验位的空间需求,同时仍保有数据纠错的能力,同时可以节省大量的内存空间浪费。
搜索关键词: 随机内存 校验位 校验 动态随机存取存储器 数据保护 异或运算 主控 纠错 逻辑设计 代数算法 空间需求 内存空间 内存组件 数据纠错 数据数据 块数据 物理层 读出 写入 储存 配置
【主权项】:
1.一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一:主控内部的随机内存控制单元,不配置额外的校验位储存用内存组件,而将校验位一同内嵌或编排储存至普通数据用内存组件的储存空间;步骤二:随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存;步骤三:主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过对数据数据做异或运算产生校验用的校验位;步骤四:随机内存控制单元所控制并从随机内存中读出资料,读取时,同时读出用户数据与校验位数据,于校验模块内进行用户数据校验运算。
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