[发明专利]一种用于半导体湿法工艺设备的液体雾化装置有效
申请号: | 201810811703.0 | 申请日: | 2018-07-23 |
公开(公告)号: | CN108906462B | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 姚大平;刘海燕 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | B05B17/06 | 分类号: | B05B17/06;B05B17/04 |
代理公司: | 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 | 代理人: | 张东梅 |
地址: | 214028 江苏省无锡市新区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种液体雾化装置,包括:中空体,所述中空体的顶端密封,一个或多个第一通孔,所述第一通孔设置在所述中空体的侧面,液体通过所述第一通孔进入雾化装置,从所述中空体的底端输出雾化液体,其中所述第一通孔包括水平延伸的直通孔和水平延伸的斜通孔,所述直通孔与所述中空体的内壁相交点处的切线基本垂直,斜通孔与所述中空体的内壁相交点处的切线成非垂直的特定角度。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体 湿法 工艺设备 液体 雾化 装置 | ||
【主权项】:
1.一种液体雾化装置,包括:中空体,所述中空体的顶端密封,一个或多个第一通孔,所述第一通孔设置在所述中空体的侧面,液体通过所述第一通孔进入雾化装置,从所述中空体的底端输出雾化液体,其中所述第一通孔包括水平延伸的直通孔和水平延伸的斜通孔,所述直通孔与所述中空体的内壁相交点处的切线基本垂直,斜通孔与所述中空体的内壁相交点处的切线成非垂直的特定角度。
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