[发明专利]一种大气密度探测数据的标校方法和设备有效
| 申请号： | 201810812128.6 | 申请日： | 2018-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN109033026B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 陈光明;李勰;唐歌实;刘舒莳;曹建峰;满海钧;李翠兰;高红;高峰;杨成 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军63920部队 |
| 主分类号： | G06F17/15 | 分类号： | G06F17/15;G06F17/17;G01N9/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 高燕;张川绪 |
| 地址： | 100094 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 提供一种大气密度探测数据的标校方法和设备，所述标校方法包括：获取在卫星飞行过程中的不同时间点的大气密度实测值，利用预先确定的标校参数对获取的大气密度实测值进行修正，获得在不同时间点的大气密度修正值，其中，所述标校参数通过多个预定时间间隔内的平均大气密度反演值和所述多个预定时间间隔内的平均大气密度实测值而被确定。采用上述大气密度探测数据的标校方法和设备，可提高探测大气密度的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 大气 密度 探测 数据 校方 设备 | ||
【主权项】：
1.一种大气密度探测数据的标校方法，所述标校方法包括：获取在卫星飞行过程中的不同时间点的大气密度实测值，利用预先确定的标校参数对获取的大气密度实测值进行修正，获得在不同时间点的大气密度修正值，其中，所述标校参数通过多个预定时间间隔内的平均大气密度反演值和所述多个预定时间间隔内的平均大气密度实测值而被确定。
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