[发明专利]一种MCD的测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 201810821227.0 | 申请日： | 2018-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110749422A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 刘振辉;王业文;栗巍;杨波 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 11508 北京维正专利代理有限公司 | 代理人： | 任志龙 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及LED测试技术领域，尤其涉及一种MCD的测试装置及其测试方法。其技术方案要点：包括开设有进光孔的底座和安装于所述底座上的分光镜座A和分光镜座B；分光镜座B开设有与进光孔连通的连通孔和设置于连通孔远离进光孔一端的波长测试孔，波长测试孔的中轴线与连通孔中轴线垂直；波长测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件；分光镜座A开设有与连通孔连通且中轴线与连通孔中轴线平行的光强测试孔；光强测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件；连通孔和光强测试孔交接处安装有与连通孔中心轴线成45°的半透半反镜，能够同时进行LED波长测试和光强测试，节省时间和人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 连通孔 波长测试 分光镜座 光强测试 进光孔 中轴线 测试 端部连接 底座 连通 技术方案要点 半透半反镜 中轴线垂直 测试装置 测试组件 人力成本 中心轴线 交接处 平行 | ||
【主权项】：
1.一种MCD的测试装置，其特征在于，包括开设有进光孔(11)的底座(1)和安装于所述底座(1)上的分光镜座A(2)和分光镜座B(3)；分光镜座B(3)开设有与进光孔(11)连通的连通孔(31)和设置于连通孔(31)远离进光孔(11)一端的波长测试孔(32)，波长测试孔(32)的中轴线与连通孔(31)中轴线垂直；波长测试孔(32)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件(5)；分光镜座A(2)开设有与连通孔(31)连通且中轴线与连通孔(31)中轴线平行的光强测试孔(21)；光强测试孔(21)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件(4)；/n连通孔(31)和光强测试孔(21)交接处安装有与连通孔(31)中心轴线成45°的半透半反镜(6)。/n
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