[发明专利]探测设备的分辨力测试方法、测试装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 201810822081.1 申请日: 2018-07-24
公开(公告)号: CN109143404A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 贾成艳;王荣;祁春超 申请(专利权)人: 深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 钟子敏
地址: 518102 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种探测设备的分辨力测试方法、测试装置及存储介质,该探测设备的分辨力测试方法包括获取探测设备对不同尺寸的多个测试模块进行扫描后生成的扫描图像;根据扫描图像,确定出能够清晰成像且尺寸最小的测试模块,将尺寸最小的测试模块的尺寸作为探测设备的分辨力。通过上述分辨力测试方法将是否能够清楚成像,及尺寸是否为最小作为分辨力测试标准,不受探测设备类型的影响,进而可以通过上述分辨力测试方法对多种不同类型的探测设备的分辨力进行测试,测试准确度较高,且适用性强。
搜索关键词: 探测设备 分辨 力测试 测试模块 测试装置 存储介质 扫描图像 测试准确度 清晰成像 成像 扫描 测试
【主权项】:
1.一种探测设备的分辨力测试方法,其特征在于,包括:获取探测设备对不同尺寸的多个测试模块进行扫描后生成的扫描图像;根据所述扫描图像,确定出能够清晰成像且尺寸最小的测试模块,将所述尺寸最小的测试模块的尺寸作为所述探测设备的分辨力。
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