[发明专利]一种带负阻特性的单向TVS器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810822137.3 申请日: 2018-07-25
公开(公告)号: CN109390385A 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 王允;苏海伟;赵德益;赵志方;张啸;吕海凤;霍田佳;杜牧涵;苏亚兵;蒋骞苑 申请(专利权)人: 上海长园维安微电子有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L21/329;H01L29/861
代理公司: 上海诺衣知识产权代理事务所(普通合伙) 31298 代理人: 衣然
地址: 201202 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种带负阻特性的单向瞬态电压抑制二极管器件,包括:第一区域,是P区,由P型掺杂硅衬底构成;第二区域,是N+区,由正面N型掺杂的扩散区构成;第三区域,是P+区,由正面P型掺杂的扩散区构成;第四区域,是N+区,由背面N型掺杂的扩散区构成;其中第二区域和第三区域在第一区域的正面中,第二区域在第一区域的中间,第二区域和第三区域间距大于等于零;第四区域在第一区域的背面中,占据第一区域的整个背面。本发明通过背面深槽后氧化工艺,将背面容易发生短路的位置保护起来,降低了风险,能够改善表面状态,使得击穿发生在硅的体内,提高稳定性和可靠性,该结构的超低漏电流对器件自身的耗电和功耗优势明显。
搜索关键词: 第一区域 第二区域 背面 扩散区 负阻特性 瞬态电压抑制二极管 表面状态 位置保护 氧化工艺 漏电流 短路 耗电 衬底 功耗 击穿 深槽 制备 体内 占据
【主权项】:
1.一种带负阻特性的单向TVS二极管,其特征在于,包括:第一区域,是P区,由P型掺杂硅衬底构成;第二区域,是N+区,由正面N型掺杂的扩散区构成;第三区域,是P+区,由正面P型掺杂的扩散区构成;第四区域,是N+区,由背面N型掺杂的扩散区构成;其中第二区域和第三区域在第一区域的正面中,第二区域在第一区域的中间,第二区域和第三区域间距大于等于零;第四区域在第一区域的背面中,占据第一区域的整个背面。
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