[发明专利]一种利用光学透射率检测石墨烯层数的方法在审
| 申请号： | 201810837379.X | 申请日： | 2018-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN108956547A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 朱授恩 | 申请（专利权）人： | 同天（福建）石墨烯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01N21/33 |
| 代理公司： | 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 | 代理人： | 叶友伟 |
| 地址： | 350007 福建省福州市仓山区城门镇南江滨西大道198*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，包括如下步骤：制备多组已知层数的石墨烯试样；利用带积分球的紫外可见光谱仪，测定已知层数的石墨烯试样对应的透射率，根据已知层数、透射率计算修正系数；3)利用带积分球的紫外可见光谱仪，测定未知层数的石墨烯试样对应的透射率；4)根据透射率、修正系数计算待测石墨烯的未知层数。本发明方法适用于对多层CVD石墨烯层数进行检测，能够对层数进行精确的测定，通过一维或二维的样品移动扫描，可以获得石墨烯样品层数分布的线阵或面阵图像，以确定石墨烯的均匀性；同时本发明方法采用的光学透射率测量也可以应用于其他范德瓦尔斯层相互作用较弱的二维材料。 | ||
| 搜索关键词： | 石墨烯 透射率 石墨烯层 紫外可见光谱仪 光学透射率 修正系数 积分球 检测 光学透射率测量 范德瓦尔斯 二维材料 面阵图像 样品移动 均匀性 样品层 对层 多层 二维 线阵 制备 扫描 应用 | ||
【主权项】：
1.一种利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，其特征在于包括如下步骤：1)制备多组已知层数Ni的石墨烯试样，石墨烯试样的组数计为n；2)利用带积分球的紫外可见光谱仪，测定已知层数Ni的石墨烯试样对应的透射率Ti，根据已知层数Ni、透射率Ti计算修正系数f(w)：![]()
α为精细结构常数；3)利用带积分球的紫外可见光谱仪，测定未知层数N的石墨烯试样对应的透射率T；4)根据透射率T、修正系数f(w)计算待测石墨烯的未知层数N：![]()
α为精细结构常数。
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