[发明专利]基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统有效

专利信息
申请号: 201810851758.4 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN110850499B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 李超;郑深;张晓娟;方广有 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01V8/10 分类号: G01V8/10;G01S17/89
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 鄢功军
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,包括:高斯波束馈源、抛物型反射面、透射型频控波束扫描器件、透镜一、平面反射镜、透镜二、测量信号接收模块以及数据处理模块,其中,所述高斯波束馈源发出的波束经所述抛物型反射面准直聚焦到所述透射型频控波束扫描器件上,衍射出的衍射波束经过所述透镜一、平面反射镜、透镜二聚焦照射到被测对象上,实现在竖直方向上的波束扫描;不同频率的波束照射到透射型频控波束扫描器件上,衍射波束出射角度不一样,从而实现在水平方向上的波束扫描。本发明的基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统能够实现两维快速成像,具有高帧率、大视场、高分辨等特点。
搜索关键词: 基于 透射 型频控 波束 扫描 器件 赫兹 成像 系统
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