[发明专利]横波斜探头反衍变探伤法

摘要

本发明提供一种横波斜探头反衍变探伤法，超声横波传播时，遇到缺陷后能产生反射波、衍射波和变型波；通过对这些波的综合分析，通过反射特性的反射波和衍射特性的衍射波，得到了缺欠的有无，通过变型特性的变型波，即在缺欠端点产生的变型表面波，通过表面波在缺欠表面传播得到了缺欠的形状、尺寸和通过缺欠产生的变型表面波、变型横波、变型纵波与发射横波之间走的路径组合，揭示了荧屏内所有波产生的成因，得到了确定缺欠的角度或方向的依据，解决了对缺陷进行精准的定位、定量和定性，实现通过A超技术就能将缺欠真实形状立体呈现。本发明的技术方案解决了现有技术中缺少一种对缺陷进行精准定位、定量和定性的探伤方法的问题。

主权项

1.一种横波斜探头反衍变探伤法，其特征在于，包括以下步骤：—超声横波传播时，遇到缺陷后能产生反射波、衍射波和变型波；通过对这些波的综合分析，通过反射特性的反射波和衍射特性的衍射波，得到了缺欠的有无，通过变型特性的变型波，即在缺欠端点产生的变型表面波，通过表面波在缺欠表面传播得到了缺欠的形状、尺寸，通过缺欠产生的变型表面波、变型横波、变型纵波与发射横波之间走的路径组合，揭示了荧屏内所有波产生的成因，得到了确定缺欠的角度或方向的依据，对缺陷进行精准的定位、定量和定性，实现将缺欠真实形状立体呈现；—在超声波探伤过程中，首先在一侧一次波探伤，当遇到缺陷时，将会出现缺陷波形A，所述缺陷波形A至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种；当采用二次波探伤，当遇到缺陷时，将会出现缺陷波形B，所述缺陷波形B至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种；—其次，在另一侧一次波探伤，当遇到缺陷时，将会出现缺陷波形C，所述缺陷波形C至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种；当采用二次波探伤，当遇到缺陷时，将会出现缺陷波形D，所述缺陷波形D至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种；—当缺陷波形A和缺陷波形B，或缺陷波形C和缺陷波形D完全相同，则缺陷单侧上下对称；当缺陷波形A和缺陷波形C，或缺陷波形B和缺陷波形D完全相同，则缺陷双侧左右对称；—利用焊缝两侧的超声一次波、二次波或更多次波的组合探伤，把缺陷产生的反射波、衍射波和变型波结合在一起，形成横波斜探头反衍变探伤法，有的缺欠在一侧一次波探伤时，通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性，有的缺欠是在一侧二次波探伤时，通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性，同理有的缺欠是在另一侧一次波探伤时，通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性，或者是二次波探伤时，通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性，每一次的探伤结果又能够相互验证，具体包括以下步骤：S1、探伤灵敏度的确定：反衍变探伤法的灵敏度，是以现有的Φ3mm横通孔灵敏度为准，再做10dB以上的提高，高到不影响探伤为准；或者以Φ0.5mm横通孔做为起始灵敏度；也能够根据设计要求允许的最小缺欠确定灵敏度，不同的产品，对缺欠的类型和大小要求不同，所以灵敏度也不同；灵敏度的确定是以发现最小缺欠为准，缺欠发现后判断缺欠不以灵敏度为准，而是以缺欠的反衍变波为准，当缺欠反射波较低时，要提高灵敏度，当缺欠只有一个反射波出现时，要通过提高灵敏度使缺欠的反衍变波同时出现，当缺欠的反衍变波较高影响判断时，要降低灵敏度，达到不影响判断为准；S2、探头角度的确定：反衍变探伤法，选取探头角度与焊缝坡口角度无关，与板材厚薄无关，与发现和判断缺陷的能力有关，探头角度只选一个，即45°横波斜探头，45°探头探伤对于检测部位如有未透声区，其它角度探头都是用来弥补或做辅助探伤；S3、缺陷的类型以及尺寸的确定：所述缺陷为平面形缺陷、圆形和半圆形缺陷，以及体积形缺陷构成；S4、缺陷的测长：应用6dB法和端点15°－45°转动反衍变法测长；S5、缺陷的定位：缺陷的尺寸、形状确定了以后，缺陷就能够较准确的进行上下左右定位；S6、缺陷的定性：缺陷形状和位置确定以后，缺陷同时就能够定性。