[发明专利]电子元器件测试设备

摘要

本发明公开一种电子元器件测试设备，该电子元器件测试设备包括转盘装置、自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，转盘装置包括驱动部件及多工位转盘；自动上料装置包括第一进出盘部件及取料部件，取料部件横跨于第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动；物料测试装置包括测试仪及测试探针；物料扫描装置用于读取条形码中储存的信息，其包括第一扫描机构和第二扫描机构；自动下料装置包括第二进出盘部件、物料盒移送部件以及送料部件，送料部件横跨于第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动。本发明电子元器件测试设备可有效的提高电子元器件的测试效率。

主权项

1.一种电子元器件测试设备，所述电子元器件的表面贴设有用于储存信息的条形码并被放置在物料盘或物料盒中，其特征在于，所述电子元器件测试设备包括用于传送物料的转盘装置以及沿所述转盘装置的转动方向依次布置的自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，所述转盘装置包括驱动部件以及与所述驱动部件的执行端连接的多工位转盘；所述自动上料装置包括用于自动进出物料盘的第一进出盘部件以及用于将所述物料盘中的物料转移至所述转盘上的取料部件，所述取料部件横跨于所述第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动；所述物料测试装置包括用于对物料的电性能参数进行检测的测试仪以及用于连接所述测试仪与待测物料的测试探针；所述物料扫描装置用于读取所述条形码中储存的信息，其包括可沿平行、垂直物料盘的移动方向运动的第一扫描机构，以及位于所述第一扫描机构下方的第二扫描机构；所述自动下料装置包括用于自动进出所述物料盘的第二进出盘部件、与所述第二进出盘部件并排设置的物料盒移送部件以及用于将所述转盘上的物料转移至所述物料盘或物料盒中的送料部件，所述送料部件横跨于所述第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动。