[发明专利]晶片的加工方法在审
申请号: | 201810900302.2 | 申请日: | 2018-08-09 |
公开(公告)号: | CN109411412A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 森数洋司 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帅;乔婉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供晶片的加工方法,能够在单晶硅晶片中形成适当的盾构隧道,能够通过盾构隧道形成与等离子蚀刻的复合加工将单晶硅晶片分割成各个器件。晶片的加工方法包含:保护部件配设工序,在晶片(2)的正面(2a)上配设保护部件;盾构隧道形成工序,从晶片(2)的背面(2b)对与分割预定线(4)对应的区域照射对于单晶硅具有透过性的波长的激光光线(LB)为连续地形成多个盾构隧道(56),该盾构隧道(56)由从背面(2b)至正面(2a)的细孔(52)和围绕细孔(52)的非晶质(54)构成;以及分割工序,通过等离子蚀刻对盾构隧道(56)进行蚀刻而将晶片(2)分割成各个器件芯片,将盾构隧道形成工序中所使用的激光光线(LB)的波长设定为1950nm以上。 | ||
搜索关键词: | 盾构隧道 晶片 单晶硅 等离子蚀刻 保护部件 激光光线 形成工序 波长 细孔 分割 背面 加工 蚀刻 单晶硅晶片 分割预定线 复合加工 器件芯片 区域照射 非晶质 透过性 | ||
【主权项】:
1.一种晶片的加工方法,将由交叉的多条分割预定线划分而在单晶硅基板的正面上形成有多个器件的晶片分割成各个器件芯片,其中,该晶片的加工方法具有如下的工序:保护部件配设工序,在晶片的正面上配设保护部件;盾构隧道形成工序,在实施了该保护部件配设工序之后,从晶片的背面对与分割预定线对应的区域照射对于单晶硅具有透过性的波长的激光光线而连续地形成多个盾构隧道,该盾构隧道由从背面至正面的细孔和围绕该细孔的非晶质构成;以及分割工序,在实施了该盾构隧道形成工序之后,通过等离子蚀刻对该盾构隧道进行蚀刻而将晶片分割成各个器件芯片,将该盾构隧道形成工序中所使用的激光光线的波长设定为1950nm以上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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