[发明专利]一种建立基准坐标系的方法有效
| 申请号： | 201810924163.7 | 申请日： | 2018-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN108871649B | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 孙竣利;熊琳;袁明论;刘春风;张妍 | 申请（专利权）人： | 坤维（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01L5/16 | 分类号： | G01L5/16;G01L25/00 |
| 代理公司： | 北京卓唐知识产权代理有限公司 11541 | 代理人： | 杨岩岩;李志刚 |
| 地址： | 102300 北京市门头沟区石*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种建立基准坐标系的方法。该方法包括在标校坐标系的参考面上设置X轴基准线和Y轴基准线，将设置在X轴基准线上的X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面作为所述基准坐标系的X基准面；将设置在Y轴基准线上的Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面作为所述基准坐标系的Y基准面；当Z轴测绘设备的水准器为水平时，将其视窗内的参考线视野形成的平面作为所述基准坐标系的Z基准面。本申请解决了由于标校空间坐标系不统一而造成的标校复杂且准确性不高的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 建立 基准 坐标系 方法 | ||
【主权项】：
1.一种建立基准坐标系的方法，所述基准坐标系用于调整六维力/力矩传感器的标校坐标系，其特征在于，包括：在所述标校空间的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在所述标校空间的第二参考面上设置第二X轴基准线，在所述标校空间的第三参考面上设置第二Y轴基准线；在所述第一X轴基准线上设置X轴测绘设备，将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的X基准面；在所述第一Y轴基准线上设置Y轴测绘设备，将所述Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一Y轴基准线和第二Y轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的Y基准面；在所述第一参考面上设置Z轴测绘设备，所述Z轴测绘设备的水准器调整为水平时，将视窗内的参考线视野形成的平面作为所述基准坐标系的Z基准面。
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