[发明专利]一种构件几何缺陷检测系统及检测方法有效
申请号: | 201810924654.1 | 申请日: | 2018-08-14 |
公开(公告)号: | CN109141303B | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 牛爽;范峰;张智栋;赵黎明;杨月明;万祥 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/30 |
代理公司: | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人: | 付登云 |
地址: | 150000 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明提供了一种构件几何缺陷检测系统及检测方法,涉及构件缺陷检测技术领域,通过对导轨形状和位置的调整,配合使用移动的检测装置解决了现有技术中存在的难以对整个待检测面进行整体和局部形状精确测量的技术问题。该装置包括安装有导轨的支撑部、能在所述支撑部上沿所述导轨移动的检测装置,其中:所述导轨平行于待检测面设置;所述检测装置包括至少两个测距传感器,且各所述测距传感器均垂直于待检测面;本发明用于对待检测面进行几何缺陷检测,多个测距传感器同时对检测面进行检测,能同时实现多条线上所有测点缺陷的连续测量,大幅提高测量效率;同时,测点间距可任意设置,达毫米级,适用于高精度高密度测点的几何缺陷测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 构件 几何 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种构件几何缺陷检测系统,其特征在于,包括安装有导轨(2)的支撑部(1)、能在所述支撑部上沿所述导轨(2)移动的检测装置(3),其中:所述导轨(2)平行于待检测面设置;所述检测装置(3)包括至少两个测距传感器(4),且各所述测距传感器(4)均垂直于待检测面;还包括数据采集装置,各所述测距传感器(4)均与所述数据采集装置可通信地连接。
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